안녕하세요. 김재훈 전문가입니다.
재료의 미세구조 분석을 위한 다양한 기법들에는 주사전자현미경(SEM) 투과전자현미경(TEM), X-선 회절분석(XRD), 에너지 분산형 X선 분광법(EDS) 원자 force 현미경(AFM) 등이 있습니다. SEM은 표면의 미세 구조를 고해상도로 관찰하는 데 유용하며 TEM은 재료 내부의 원자 구조까지 분석할 수 있습니다. XRD는 결정 구조와 결정립 크기 상 변화를 확인하는 데 사용되며 EDS는 특정 영역의 화학 성분을 분석하는 데 적합합니다. AFM은 표면의 원자 수준의 구조와 거칠기를 측정할 수 있습니다. 이들 기법은 각각의 특성에 맞춰 재료의 물리적 화학적 특성을 정밀하게 분석하는 데 사용됩니다.
