전자현미경은 전자빔을 이용해 매우 높은 배율로 이미지를 얻는 장치입니다. 그 원리는 가시광선 대신 전자를 광원으로 사용하는 데 있습니다. 전자는 파장이 매우 짧아 빛으로는 볼 수 없는 미세한 구조까지 관찰할 수 있습니다. 전자빔은 샘플에 초점을 맞추기 위해 전기적 또는 자기적 렌즈로 조절되며 샘플과 상호작용하면서 신호가 발생합니다. 이 신호는 샘플의 표면 형상이나 내부 구조에 대한 정보를 포함하고 있으며 이를 감지해 이미지로 변환합니다. 주사전자현미경(SEM)은 샘플 표면을 스캔해 3차원 이미지를 제공하고 투과전자현미경(TEM)은 전자를 샘플 내부로 통과시켜 내부 구조를 분석합니다. 전자현미경은 이렇게 전자의 특성을 활용해 기존 광학 현미경보다 훨씬 높은 해상도의 이미지를 얻을 수 있습니다.