재료공학에서 특성 분석을 위한 다양한 방법으로는 주사전자현미경, 원자현미경, X선회절 등이 있습니다. SEM은 재료의 표면 주로를 고해상도로 관찰할 수 있으며, AFM은 나노 수준의 표면 특성을 측정하는데 유용합니다. XRD는 결정 구조와 배열을 분석하여 재료의 상 및 결정립 크기를 파악하는데 사용합니다.
재료공학에서 특성 분석을 위해 다양한 분석 방법과 툴이 사용됩니다. 대표적인 방법으로는 X-선 회절(XRD), 주사전자현미경(SEM) 투과전자현미경(TEM) 등이 있으며 이들은 재료의 결정 구조 미세구조 및 형태를 시각화하는 데 유용합니다. 또한 열분석(TGA, DSC)은 재료의 열적 특성을 평가하고 기계적 성질은 인장시험, 경도시험 압축시험 등을 통해 측정됩니다. 화학적 조성 분석을 위한 에너지 분산 X-선 분석(EDX)과 같은 방법도 널리 사용됩니다. 이 외에도 전기적 특성을 분석하기 위한 전기전도도 측정 및 자기적 특성을 평가하는 자화측정기 등이 있어 다양한 특성을 종합적으로 분석하여 재료의 성능과 응용 가능성을 평가합니다.
