이론적으로 X-ray 해상도 계속 좋아지고 있어서 작은 물체 자체 탐지는 어느 정도 가능합니다만, 1cm 이하 나노 수준이면 현장 장비로 내용물까지 정확히 식별하는 건 한계가 있습니다. 지금도 미세 전자부품이나 분말류는 이미지로 구분 어려워서 결국 서류나 샘플 검사로 가는 경우 많습니다. 실제로 소형 부품 혼입 사례도 X-ray로는 형태만 보이고 품목 판단은 못해서 정밀검사 들어간 적 있습니다. 그래서 향후에도 단순 스캔만으로 품목분류까지 자동으로 하는 건 어렵고, 데이터랑 병행하는 구조로 갈 가능성이 큽니다.