여러가지 공정능력 지수에 대해 질문드립니다.
여러가지 공정능력지수가 있던데요.각 각 무슨 뜻이고 어떻게 구하는지 질문 드립니다. Cp, Cpk, Cp.usl, Cp.lsl
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공정 능력 지수는 제조 공정의 안정성과 정확성을 측정하는 지표입니다. 여러 가지 공정 능력 지수가 있지만, 주로 사용되는 지표는 다음과 같습니다.
Cp: 공정 역량 지수 (Process Capability Index)
공정의 규격 한계(USL, Upper Specification Limit)와 규격 하한(LSL, Lower Specification Limit)의 폭을 측정하여 공정 능력을 평가하는 지표입니다.
Cp 값이 1이면 공정이 규격 한계 내에서 좁게 집중되어 있으며, Cp 값이 높을수록 공정이 안정적으로 운영되고 있습니다.
Cp = (USL - LSL) / (6 x 표준편차)
Cpk: 공정 역량 지수 (Process Capability Index) - 한계 대비
Cp와 유사하지만, Cpk는 평균값의 위치도 고려합니다. 공정이 규격 한계 내에서 어느 정도 중심에 위치하는지를 고려하여 공정 능력을 평가하는 지표입니다.
Cpk 값이 1이면 공정이 규격 한계 내에서 좁게 집중되어 있으며, Cpk 값이 높을수록 공정이 안정적으로 운영되고 있습니다.
Cpk = min[(USL - 평균) / (3 x 표준편차), (평균 - LSL) / (3 x 표준편차)]
Cp.usl: 상한 한계 역량 지수 (Upper Specification Limit Capability Index)
규격 한계의 상한 값에서의 공정 능력을 평가하는 지표입니다. Cp와 유사하지만, 규격의 상한 값에서의 공정 능력을 따로 측정합니다.
Cp.usl 값이 1이면 공정이 규격 한계 내에서 좁게 집중되어 있으며, Cp.usl 값이 높을수록 공정이 안정적으로 운영되고 있습니다.
Cp.usl = (USL - 평균) / (3 x 표준편차)
Cp.lsl: 하한 한계 역량 지수 (Lower Specification Limit Capability Index)
규격 한계의 하한 값에서의 공정 능력을 평가하는 지표입니다. Cp와 유사하지만, 규격의 하한 값에서의 공정 능력을 따로 측정합니다.
Cp와 유사하지만, 규격의 하한 값에서의 공정 능력을 따로 측정합니다.
공정에서 생산되는 제품이 규격의 하한 값보다 낮은 값을 갖게 된다면, 제품은 규격을 충족시키지 못하고 불량으로 판정됩니다. Cp.lsl은 이러한 상황에서의 공정 능력을 평가하기 위해 사용됩니다.
Cp.lsl 값은 공정에서 생산된 제품의 하한 규격 값과 평균값, 그리고 표준 편차를 사용하여 다음과 같이 계산됩니다.
Cp.lsl = (평균 - LSL) / (3 x 표준편차)
여기서 LSL은 하한 규격 값을 나타냅니다. Cp.lsl 값이 1이면 공정이 규격 한계 내에서 좁게 집중되어 있으며, Cp.lsl 값이 높을수록 공정이 안정적으로 운영되고 있습니다.
